日期:2017-04-17瀏覽:6084次
電路板,LED,磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例
近年來國內(nèi)外電子整機的失效統(tǒng)計顯示,元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下,引起人們普遍關(guān)注。元器件本身及使用的可靠性提高對于整機可靠性的提高具有關(guān)鍵的作用。
行業(yè)  | 檢測對象  | 用途  | 工藝  | 解決方案  | 
電子部品  | 
 印制電路板  | 生產(chǎn)  | 絕緣層涂料硬化干燥  | 高溫試驗箱  | 
層間接合硬化  | 真空高溫試驗箱  | |||
脫泡  | 250℃真空高溫箱  | |||
評價  | 熱循環(huán)加速試驗  | 冷熱沖擊試驗箱+導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)  | ||
溫濕度偏壓電壓加速試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)+絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
高溫高壓材料耐濕試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)+絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
 LED  | 生產(chǎn)/檢查  | 脫泡試驗  | 真空高溫試驗箱  | |
評價  | 高溫試驗  | 高溫試驗箱  | ||
低溫放置試驗  | 中型高低溫(濕熱)試驗箱  | |||
溫度循環(huán)試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
 磁性材料  | 生產(chǎn)  | 干燥  | 高溫試驗箱  | |
評價  | 
  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | ||
  | 高壓加速老化試驗箱  | 
信息通訊
信息通訊設(shè)備使用范圍從室內(nèi)到野外,從熱帶到寒帶,不同地方經(jīng)受這多樣的環(huán)境條件。同時伴隨市場的小型化、便攜性要求的日益提高,裝置密度也不斷增加。因此,元器件選擇、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品定型、制造工藝及失效分析都對可靠性提出了嚴(yán)格的要求。
行業(yè)  | 檢測對象  | 用途  | 工藝  | 解決方案  | 
IT通訊  | 
 傳輸交換設(shè)備  | 檢查  | 冷熱沖擊試驗  | 冷熱沖擊試驗箱  | 
高溫放置試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
老化試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
評價  | 熱循環(huán)試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | ||
lcordia試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
  | 冷熱沖擊試驗箱  | |||
絕緣評價  | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
導(dǎo)通評價  | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)  | |||
 移動通信終端  | 檢查  | 成品動作試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |
  | 高低溫(濕度)試驗室  | |||
評價  | 溫濕度試驗  | 小型環(huán)境試驗箱  | ||
  | 高壓加速老化試驗箱  | |||
絕緣評價  | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
導(dǎo)通評價  | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)  | |||
 計算機  | 檢查  | 冷熱沖擊試驗  | 冷熱沖擊試驗箱  | |
高溫放置試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
老化試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |||
評價  | 成品或零部件的綜合評價  | 溫度、濕度、振動三綜合試驗箱  | ||
絕緣評價  | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
導(dǎo)通評價  | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)  | |||
 計算機外存儲設(shè)備  | 檢查  | 元器件篩選  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | |
成品老化處理  | 高低溫(濕度)試驗室  | |||
評價  | 保證溫濕度范圍內(nèi)動作試驗  | 高低溫(濕熱)試驗箱(J系列)  | ||
  | 冷熱沖擊試驗箱  | |||
絕緣評價  | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)  | |||
導(dǎo)通評價  | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)  |